私たちは二次イオン質量分析(Secondary Ion Mass Spectrometry)
通称 SIMS(シムス)という分析装置の設計開発、保守、修理、分析を行っています。
「SIMS」は様々な分野で活躍する貴重な分析装置で、研究機関や大学、企業で使われています。
特徴として高分解能かつ高い質量精度で質量分析することが可能であり
幅広い分野での定性・定量分析に用いられています。
半導体内の構造をみたり原子力燃料であるウランの粒子を観察したりと
目に見えない小さなものを分析することができます。
また、JAXAのプロジェクトで小惑星リュウグウに行った「はやぶさ2」が
持ち帰った地球外サンプルを分析したのも このSIMSです。
宇宙研究の最先端を担う装置開発・製造を目指しています。
現在、国立大学との共同研究も行っており、新しい技術を社会実装させるため研究開発を続けています。
日本だけでなく、世界で活躍できる企業となるべく、成長を続けていきます。